缺陷信号识别与提取方法、装置、电子设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202210112083.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114676718A | 公开（公告）日 | 2022-06-28 |
| 申请公布号 | CN114676718A | 申请公布日 | 2022-06-28 |
| 分类号 | G06K9/00（2022.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 李红梅;赵春田;杨杰;黄冉冉 | 申请（专利权）人 | 南方科技大学 |
| 代理机构 | 北京轻创知识产权代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 264207山东省威海市南海新区滨海路北、龙海路东蓝色创业谷K区二楼205 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及缺陷信号识别与提取方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：读入待检信号，利用与典型缺陷波形相似的小波基对信号进行分解，将待检信号的小波分解高频信号分布模式与典型缺陷高频信号分布模式相同的信号段识别为含有缺陷的信号段，提取缺陷第一个维度的边界坐标；判断相邻通道缺陷坐标的连通性，将满足连通性的缺陷，集成为一个缺陷，得到缺陷第二个维度的边界坐标。本发明实现缺陷二维边界内的信号提取，有效从复杂信号中分解和识别出缺陷信号，无冗余信息，提高了缺陷信号识别的准确率和缺陷信号提取的精准度。 |
