实验检测用精密天平专利查询专利号|摘要-满商公司网

实验检测用精密天平

基本信息

申请号	CN201921189676.4	申请日	-
公开（公告）号	CN210464647U	公开（公告）日	2020-05-05
申请公布号	CN210464647U	申请公布日	2020-05-05
分类号	G01G21/28;G01G23/00	分类	测量；测试;
发明人	钱泽;孟洁	申请（专利权）人	昂科生物医学技术（苏州）有限公司
代理机构	北京化育知识产权代理有限公司	代理人	昂科生物医学技术（苏州）有限公司
地址	215400 江苏省苏州市太仓市北京西路6号留学生创业园研发西楼4楼
法律状态	-

摘要

本实用新型公开了一种实验检测用精密天平，包括底座、位于所述底座上方的防护罩和安装在所述底座上表面的称量盘；所述底座的上表面的边缘设有第一下卡槽、第二下卡槽、第一下滑槽和第二下滑槽，所述防护罩包括前护板、后护板、左护板、右护板、上护板和固定架，所述固定架包括前固定板、后固定板、左固定板和右固定板，所述前固定板的下表面向内凹陷形成有第一上卡槽，所述后固定板的下表面向内凹陷形成有第二上卡槽，所述左固定板形成有第一上滑槽和第二上滑槽，所述右固定板形成有第一上滑槽和第二上滑槽，所述后护板的内表面活动连接一干燥盒，所述干燥盒为网状干燥盒，所述干燥盒内填充有干燥剂。本实用新型能够保持精密天平待测环境的干燥，提高测量物的测量精度。