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一种芯片测试制造设备

基本信息

申请号 CN202022072121.0 申请日 -
公开（公告）号 CN213349835U 公开（公告）日 2021-06-04
申请公布号 CN213349835U 申请公布日 2021-06-04
分类号 B08B1/00;B08B5/02;B08B13/00;B25B11/00;H01L21/67 分类 清洁;
发明人 王俊杰;刘伟波;万里春 申请（专利权）人 盐城市天达微电子有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 224000 江苏省盐城市盐南高新区新跃路26号大数据产业园5幢1层
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型属于制造设备技术领域，尤其是一种芯片测试制造设备，针对现有的芯片测试制造设备在制造时不是很方便，不能对制造过程中产生的碎屑进行清理，大大的降低了生产效率的问题，现提出如下方案，其包括底板，所述底板的顶部固定在有第一支架，第一支架上滑动安装有第二支架，第二支架的底部固定安装有加工头，第一支架的顶部固定安装有电动推杆，电动推杆的输出轴与第二支架固定连接，底板的顶部对称固定安装有两个安装架，两个安装架上均螺纹安装有螺杆，两个螺杆的顶部均固定安装有旋钮。本实用新型可以快速的对芯片进行固定并加工，使用方便，并且可以有效的将加工时产生的碎屑清除，大大的提高了芯片的加工效率。