一种薄金属板带应力分布的评价方法
基本信息
| 申请号 | CN202111599617.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114414595A | 公开（公告）日 | 2022-04-29 |
| 申请公布号 | CN114414595A | 申请公布日 | 2022-04-29 |
| 分类号 | G01N23/00（2006.01）I;G01B15/02（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 祝儒飞;娄花芬;刘宇宁;白依可;张嘉凝;莫永达;王虎;王云鹏;王苗苗;王同波;代晓腾;蔡正旭 | 申请（专利权）人 | 昆明冶金研究院有限公司北京分公司 |
| 代理机构 | 中国有色金属工业专利中心 | 代理人 | 范威 |
| 地址 | 102209北京市昌平区北七家镇未来科学城南区中铝科学技术研究院10号楼2层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种薄金属板带应力分布的评价方法，对薄金属板带沿轧向、横向进行蚀刻分切制取样条并对样条沿厚度方向进行半蚀刻，测量板带平放时样条挠曲高度及垂直放置时样条侧弯量，通过样条挠曲高度及侧弯量来评价板带厚度方向的应力分布情况，应用于半蚀刻加工工艺金属的其潜在板形进行判断，从而为应力定量测试指明测量方法。当挠曲高度≥0.5mm,则认定应力分布不均匀，采用X射线测量板带上下表面、1/4厚度、1/2厚度、3/4厚度部位的应力；当挠曲高度<0.5mm，通过侧弯量来进一步判断应力分布。当侧弯≥20mm，可判断板带应力分布不均，采用X射线测量板带上下表面、1/4厚度、1/2厚度、3/4厚度的应力。当侧弯＜20mm，可判断厚度应力均匀，只需用X射线测量单表面的应力。 |
