微米发光二极管检测系统及检测方法
基本信息
| 申请号 | CN202210371679.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114441149B | 公开（公告）日 | 2022-07-05 |
| 申请公布号 | CN114441149B | 申请公布日 | 2022-07-05 |
| 分类号 | G01M11/02（2006.01）I;G01R31/26（2014.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 汪伟;毕海;段江伟;张赫铭;柯链宝;杨万里;何兆铭 | 申请（专利权）人 | 季华实验室 |
| 代理机构 | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 | 代理人 | - |
| 地址 | 528200广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提出的一种微米发光二极管检测系统及检测方法，属于发光二极管检测领域，其中，系统包括第一光发生模块，用于发出第一光信号至多个待测微米发光二极管，以使多个待测微米发光二极管生成第二光信号；高光谱相机，所高光谱相机用于采集第二光信号，获得光谱成像帧，光谱成像帧中包括多个待测微米发光二极管的光谱数据；控制模块，与高光谱相机连接，用于基于光谱成像帧，从多个待测微米发光二极管中确定出缺陷微米发光二极管，其中，多个待测微米发光二极管，在接收到第一光信号中的光能后，激发自身以生成第二光信号。本发明实现同时准确对多个微米发光二极管进行检测，提高了在生产中对微米发光二极管的检测效率。 |
