一种利用X射线对贵金属表面成分分析的仪器
基本信息
| 申请号 | CN202020942363.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212483420U | 公开（公告）日 | 2021-02-05 |
| 申请公布号 | CN212483420U | 申请公布日 | 2021-02-05 |
| 分类号 | G01N23/207(2006.01)I; | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 孙吉光 | 申请（专利权）人 | 北京黄金管家科技发展有限公司 |
| 代理机构 | 北京中索知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈宾宾 |
| 地址 | 100091北京市海淀区中关村SOHOB区309 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型适用于贵金属检测辅助设备技术领域，提供了一种利用X射线对贵金属表面成分分析的仪器，包括金属成分分析仪和输送装置；金属成分分析仪为包括壳体、X射线发生器和与所述X射线发生器对应的荧光光谱仪；所述输送装置滑动穿透所述金属成分分析仪下方；所述输送装置包括输送带和料盘，所述料盘下端一侧铰接所述输送带，所述料盘另一端设有复位弹簧，所述壳体上设有若干个伸缩导杆，且所述荧光光谱仪和伸缩导杆均连接控制系统。借此，本实用新型通过在金属成分分析仪的下端设置输送装置，在检测金属各组分含量的同时，还可以满足对快速筛选的需要。 |
