一种适用于非均匀阵列的快速测向方法
基本信息
| 申请号 | CN202210433326.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114545324A | 公开（公告）日 | 2022-05-27 |
| 申请公布号 | CN114545324A | 申请公布日 | 2022-05-27 |
| 分类号 | G01S3/14（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 于明成;李继锋;李晃;朱文明 | 申请（专利权）人 | 南京宇安防务科技有限公司 |
| 代理机构 | 南京华恒专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 210000江苏省南京市玄武区黄埔路2号黄埔科技大厦A1幢 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种适用于非均匀阵列的快速测向方法，根据阵列参数确定离散空间序列的长度，构造并初始化离散空间序列，根据阵元数目及序列长度，来选择是使用离散傅里变换DFT还是选择快速傅里叶变换FFT计算，读取接收来波波长和接收通道并更新离散空间序列，对离散空间序列做DFT或FFT运算，获得与实部方向图最大值相对应的角度，然后迭代求解以及计算来波方向。本发明通过对阵元输出信号序列的适当处理，使得可以利用FFT快速获得方向图峰值所在的大概位置。基于此大概位置，利用迭代算法，可以获得方向图峰值的精确位置，进而实现精确测向。 |
