一种按键测试方法及按键测试装置
基本信息
申请号 | CN201910637058.X | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN110470927B | 公开(公告)日 | 2021-12-17 |
申请公布号 | CN110470927B | 申请公布日 | 2021-12-17 |
分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R31/327(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 覃泰瑾;吴子明;李勇;丁敏杰 | 申请(专利权)人 | 深圳市金锐显数码科技有限公司 |
代理机构 | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 曹柳 |
地址 | 518000广东省深圳市南山区高新区中区麻雀岭工业区M-6栋6楼 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明属于按键测试技术领域,主要提供了一种按键测试方法及按键测试装置中,通过获取按键配置信息,并根据所述按键配置信息将电路板上对应的多个待测试按键依序接入参考电压信号源,并对电路板进行信号采样得到对应的多个采样电压信号,最后根据多个采样信号与所述按键配置信息生成对应的测试结果,从而达到对电路板上的按键进行自动测试的目的,测试速度快,效率高,并且方便电路板的管理和维修,解决了目前很多测试场景通常采用人工插板进行逐个按压进行测试,需要投入大量人力进行频繁的重复性的一系列按键点击动作,具有测试效率低,容易出现漏测或者测错的问题。 |
