一种用于有限共轭扫描镜头后截距的量测装置
基本信息
申请号 | CN202120291881.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN214251475U | 公开(公告)日 | 2021-09-21 |
申请公布号 | CN214251475U | 申请公布日 | 2021-09-21 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 吴迪富;刘海燕;顾兵;钱敏;吴朋朋;顾蓬蓬;张杨周;桑文明;陶新天;王炳炎;白泓立;岳秀立;陈举;宗文佳;李杨;杨磊;郭江 | 申请(专利权)人 | 江苏宇迪光学股份有限公司 |
代理机构 | 南京正联知识产权代理有限公司 | 代理人 | 卜另北 |
地址 | 226400江苏省南通市如东县双甸镇工业园区 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开了一种用于有限共轭扫描镜头后截距的量测装置,包括固定架和镜头体,其特征在于,还包括用于配合镜头体反射光线的平台机构,和用于调整平台机构位移的调整机构,所述调整机构通过顶针组件与平台机构调整配合设置,所述平台机构通过固定架与镜头体配合设置,所述平台机构固定设置在固定架下方,所述镜头体设置在固定架的上方。本实用新型利用平面镜的反光原理及中心偏差装置快速量测出有限共轭镜头工作距离,通过玻璃罩将平面镜的反射光线折射到镜头的最后一个镜片的距离,继而量测出镜头后截距,不仅填补了有限共轭扫描镜头后截距的空白,而且量测出的数据快速准备,从而有效地提高了镜头变焦的清晰度。 |
