一种集成电路测试中site的管控方法及系统专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种集成电路测试中site的管控方法及系统

基本信息

申请号	CN202011337891.1	申请日	-
公开（公告）号	CN112462233A	公开（公告）日	2021-03-09
申请公布号	CN112462233A	申请公布日	2021-03-09
分类号	G01R31/28(2006.01)I;G06F17/18(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	周乃新	申请（专利权）人	北京确安科技股份有限公司
代理机构	北京轻创知识产权代理有限公司	代理人	冯瑛琪
地址	100094北京市海淀区永丰基地丰贤中路7号孵化楼A楼二层
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种集成电路测试中site的管控方法及系统，涉及集成电路领域。该方法包括：步骤1，获取bin值排序文件；步骤2，统计集成电路并行测试中每个bin值在不同site下出现的个数，生成统计表；步骤3，根据所述bin值排序文件，对统计表中不符合要求的数据进行剔除，生成优化后的统计表；步骤4，根据优化后的统计表计算bin值百分比；步骤5，根据所述bin值百分比判断site是否可控。本发明能够解决统计百分比时仍然以site总Die数或晶圆总Die数作为基数计算某个bin的百分比，则会导致统计数据失真的问题，达到减少site间差误判漏判问题，提高了生产管控能力，及时发现测试过程趋势性问题，避免了客户损失的效果。