一种芯片测试向量转换方法
基本信息

| 申请号 | CN201510917219.2 | 申请日 | - |
| 公开(公告)号 | CN106872872B | 公开(公告)日 | 2020-07-03 |
| 申请公布号 | CN106872872B | 申请公布日 | 2020-07-03 |
| 分类号 | G01R31/28 | 分类 | - |
| 发明人 | 何超;孙昕;石志刚 | 申请(专利权)人 | 北京确安科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人 | 苗青盛 |
| 地址 | 100094 北京市海淀区永丰基地丰贤中路7号孵化楼A楼2层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要

| 摘要 | 本发明公开了一种将T2000测试系统的PATTERN转换成J750测试系统PATTERN的方法,该方法采用了特殊的文件处理技术,使得转换时间大大缩减,避免了平台移植过程中花费大量的时间去修改PATTERN的格式。 |





