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一种针对智能卡芯片的测试系统

基本信息

申请号	CN201910028436.4	申请日	-
公开（公告）号	CN111435145A	公开（公告）日	2020-07-21
申请公布号	CN111435145A	申请公布日	2020-07-21
分类号	G01R31/28(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	石志刚;来金鑫	申请（专利权）人	北京确安科技股份有限公司
代理机构	北京路浩知识产权代理有限公司	代理人	王莹;李相雨
地址	100094北京市海淀区永丰基地丰贤中路7号孵化楼A楼二层
法律状态	-

摘要

本发明实施例提供一种针对智能卡芯片的测试系统，包括测试机及参与并行测试的多个智能卡芯片；其中：测试机包括一个或多个100MDM板卡，100MDM板卡包括多个100MDM测试资源；并且，每个智能卡芯片的VCC管脚单独连接100MDM板卡进行供电；多个智能卡芯片的同种类的第一管脚采用多位复用的方式连接100MDM测试资源，第一管脚的信号不随周期进行电平翻转；每个智能卡芯片的第二管脚单独连接100MDM测试资源，第二管脚的信号随周期进行电平翻转。本发明实施例提供的针对智能卡芯片的测试系统，通过采用100MDM板卡给VCC管脚供电，并且同种类的第一管脚复用100MDM测试资源，有效地减少了测试机板卡的使用数量，降低了测试成本。