基于高斯过程回归的试验样本点选取方法
基本信息
| 申请号 | CN202011290863.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114510812A | 公开（公告）日 | 2022-05-17 |
| 申请公布号 | CN114510812A | 申请公布日 | 2022-05-17 |
| 分类号 | G06F30/20（2020.01）I;G06F17/18（2006.01）I;G06F17/15（2006.01）I;G06F111/10（2020.01）N | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 刘若鹏;赵治亚;周鑫;何洋 | 申请（专利权）人 | 深圳光启尖端技术有限责任公司 |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 518057广东省深圳市南山区高新区中区高新中一道9号软件大厦四楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种基于高斯过程回归的试验样本点选取方法，包括：在仿真数据进行性态分析的过程中，确定高斯过程回归模型的核函数；确定误差响应函数；获取实际工程问题中性能测试的历史数据，生成训练数据集；导入训练数据集，运用高斯过程回归模型，确定核函数的初始化超参数；进行初始化试验构建；运用高斯过程回归模型进行采样的迭代优化，选取最优采样点集合；迭代优化结束后，输出选取的最优采样点集合。本发明解决了现有技术中试验样本点选取效率低的问题。 |
