一种片式电子元器件测试装置
基本信息
| 申请号 | CN201811266519.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109541340A | 公开（公告）日 | 2019-03-29 |
| 申请公布号 | CN109541340A | 申请公布日 | 2019-03-29 |
| 分类号 | G01R31/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈月光; 卞德东; 高洪利; 杨永征; 宋桂涛 | 申请（专利权）人 | 山东同方鲁颖电子有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 276300山东省临沂市沂南县金波路山东同方鲁颖电子有限公司 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种片式电子元器件测试装置，包括绝缘板，所述绝缘板的顶部固定连接有负电极板，所述负电极板底部的右侧镶嵌有连接器件铜块，所述连接器件铜块的内腔固定连接有绝缘层，所述绝缘层的顶部贯穿设置有测试针，所述测试针的底端贯穿至连接器件铜块的底部，所述负电极板顶部的右侧固定连接有测量支撑绝缘底板，所述测量支撑绝缘底板的顶部开设有滑槽。该片式电子元器件测试装置，通过正负电极的面接触和压簧的力度控制，提高了产品测试精度，对产品的品质因数的测量精度的改善，本测试装置，不仅提高了片式电感的测试精度，而且制造和维护成本低，还使用方便，并且调节简单易上手。 |
