一种基于TD-LTE的测试设备
基本信息
申请号 | CN201920854703.9 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN210075819U | 公开(公告)日 | 2020-02-14 |
申请公布号 | CN210075819U | 申请公布日 | 2020-02-14 |
分类号 | H05K5/02;H05K7/20;H04W24/08 | 分类 | 其他类目不包含的电技术; |
发明人 | 王宝旭 | 申请(专利权)人 | 北京基恒通信股份有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 100176 北京市大兴区亦庄经济开发区荣华南路亦城科技中心B座3层 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开了一种基于TD‑LTE的测试设备,包括一机壳,机壳的正面上设有显示屏、多个按键、多个接线插孔、电源线,机壳的顶面横向设置有一列凹槽,凹槽内并排设置有多个散热孔;散热孔的上方均设有一悬浮块,悬浮块与凹槽的内壁不接触;悬浮块的一侧连接一弹性片,弹性片的一端通过一连接件连接一挡片,挡片位于机壳的正前方;挡片上自上而下开设有多个观察窗口,观察窗口内固定一软膜,软膜上开设有一中心孔,中心孔内固定有金属框架,金属框架的表面设有多根刮毛。本实用新型的有益效果是:本实用新型具有良好的散热和防潮效果,对测试设备形成良好的保护,延长了使用寿命。 |
