一种半导体可靠性评估方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN201810985436.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109145460A | 公开（公告）日 | 2019-01-04 |
| 申请公布号 | CN109145460A | 申请公布日 | 2019-01-04 |
| 分类号 | G06F17/50 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 不公告发明人 | 申请（专利权）人 | 洪启集成电路（珠海）有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 200120 上海市浦东新区南汇新城镇环湖西二路888号C楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种半导体快速可靠性评估方法及装置，包括高效且可靠的可靠性基准（BL）管理系统和基于序贯概率比测试（SPRT）的测试方案。为确保SPRT测试方案的可信设置，应用贝叶斯方法不断更新BL数据库。这是SPRT第一次应用于具有两个未知参数的可靠性风险评估。应用本发明提供的方法及装置，可以快速测得半导体的可靠性，减少样本量和测试时间。 |
