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压力下PT100温度传感器可靠性验证试验仓

基本信息

申请号 CN201821823590.8 申请日 -
公开（公告）号 CN208953162U 公开（公告）日 2019-06-07
申请公布号 CN208953162U 申请公布日 2019-06-07
分类号 G01K15/00（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 高博; 徐森; 朱建斌; 蒋坚毅; 周建为 申请（专利权）人 北京冶核技术发展有限责任公司
代理机构 北京一格知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 滑春生;赵永伟
地址 100088 北京市海淀区西土城路33号院
法律状态 -

摘要

摘要 一种压力下PT100温度传感器可靠性验证试验仓，包括由箱体和盖板组成的密闭的常压舱，在该常压舱内设有高压舱和标准PT100温度传感器，在该高压舱内设有压力传感器、液位传感器、湿度传感器和被测试PT100温度传感器，在该高压舱上设有加压口；在该常压舱和高压舱内设有液体的热传导介质；在该盖板上设有热传导介质注入口，在该常压舱和高压舱的底部分别设有热传导介质排放口。本实用新型的优点是：简单易用，并且能很好的模拟不同湿度及压力对PT100温度传感器的影响，从而对PT100温度传感器的性能验证，保障了核电厂安全壳密封试验等相关工作的顺利完成，降低了因压力可能造成PT100温度传感器性能下降的潜在风险。