硅基板上解键合SiC片方法
基本信息
申请号 | CN202111119932.4 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113948459A | 公开(公告)日 | 2022-01-18 |
申请公布号 | CN113948459A | 申请公布日 | 2022-01-18 |
分类号 | H01L21/78(2006.01)I;H01L21/673(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 严立巍;符德荣;李景贤 | 申请(专利权)人 | 浙江同芯祺科技有限公司 |
代理机构 | 工业和信息化部电子专利中心 | 代理人 | 华枫 |
地址 | 312000浙江省绍兴市越城区银桥路326号1幢4楼415室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提出了一种硅基板上解键合SiC片方法。包括:S100:将键合有多片SiC片的硅基板翻转,使SiC片朝向石墨托盘并嵌入石墨托盘;S200:向硅基板喷洒蚀刻液,使多片SiC片与硅基板解键合;S300:移除解键合后的硅基板,并使多片SiC留置于石墨托盘。根据本发明提出的的硅基板上解键合SiC片方法,通过将SiC片对准并嵌入石墨盘,利用石墨盘耐高温的性质,便于后续对SiC片进行高温退火等工艺,另外,通过蚀刻液以化学蚀刻的方式进行解键合,避免了对SiC片的表面损伤,有助于提高SiC器件的良品率。 |
