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一种集成电路测试装置

基本信息

申请号 CN201621110705.X 申请日 -
公开（公告）号 CN206235711U 公开（公告）日 2017-06-09
申请公布号 CN206235711U 申请公布日 2017-06-09
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 杨良春 申请（专利权）人 北京信诺达泰思特科技股份有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 100013 北京市东城区和平里东街11号122号楼一层东侧
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及一种集成电路测试装置，包括基板，基板的上表面上开设有横向容置槽，横向容置槽的右侧面上设有按钮开关，基板的上表面上还开设有竖向输出槽，基板的后侧面上设有推出气缸，推出气缸的活塞杆穿过基板的侧壁并可伸入至横向容置槽内，基板的后侧设有支撑板，支撑板的前侧面上设有安装板，安装板的上侧面上设有压紧气缸，压紧气缸的输出轴穿过安装板并与连接板固定连接，连接板的上表面上固定设置有测试机，连接板的下表面上设有与集成电路芯片引脚相适配的多个连接端子，连接端子与测试机连接，集成电路测试装置还包括主机、键盘和显示器，本实用新型的集成电路测试装置测试速度快、效率高。