数字集成电路测试系统（ST3020-D）
基本信息
| 申请号 | CN201930170749.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN305390219S | 公开（公告）日 | 2019-10-18 |
| 申请公布号 | CN305390219S | 申请公布日 | 2019-10-18 |
| 分类号 | 10-05（12） | 分类 | - |
| 发明人 | 邓亚芬; 濮德龙 | 申请（专利权）人 | 北京信诺达泰思特科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京智沃律师事务所 | 代理人 | 北京信诺达泰思特科技股份有限公司 |
| 地址 | 100142 北京市海淀区西三环中路10号望海楼B座二层205室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 1．本外观设计产品的名称：数字集成电路测试系统（ST3020‑D）。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测试数字集成电路，可靠性高。3．本外观设计产品的设计要点：在于产品整体形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。 |
