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一种集成电路自动测试系统

基本信息

申请号 CN201621110733.1 申请日 -
公开（公告）号 CN206236647U 公开（公告）日 2017-06-09
申请公布号 CN206236647U 申请公布日 2017-06-09
分类号 H01L21/66(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 杨良春 申请（专利权）人 北京信诺达泰思特科技股份有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 100013 北京市东城区和平里东街11号122号楼一层东侧
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及一种集成电路自动测试系统，包括盒体，盒体的上方设有盒盖，盒体内腔的底面上设有第一容置槽，第一容置槽内设有下基板，下基板的上方设有上基板，第一容置槽的底面上设有多个连接端子，盒体的侧壁上设有接口，下基板的上表面上开设有第二容置槽，上基板的下表面上对应地开设有第三容置槽，上基板和下基板上分别开设有容纳孔，容纳孔内设有加热管，第二容置槽的底面上设有多个插孔，插孔的内侧面上设有金属电极，盒体内还设有主输入管和主输出管，主输入管上设有上分支管和下分支管，上分支管的另一端穿过上基板并与主输出管连通，下分支管的另一端穿过下基板并与主输出管连通；本实用新型的集成电路自动测试系统。