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一种智能型集成电路测试装置

基本信息

申请号 CN201621109808.4 申请日 -
公开（公告）号 CN206235710U 公开（公告）日 2017-06-09
申请公布号 CN206235710U 申请公布日 2017-06-09
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 杨良春 申请（专利权）人 北京信诺达泰思特科技股份有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 100013 北京市东城区和平里东街11号122号楼一层东侧
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及一种智能型集成电路测试装置，包括底板和盖板，盖板的一侧铰接在底板上，底板的上表面上开设有第一容置槽，第一容置槽的底面上设有凸台，凸台的外侧面上开设有第二容置槽，第二容置槽内设有第一弹性装置，第一弹性装置的一端与限位柱连接，限位柱的端面为倾斜面，凸台的上方设有罩体，罩体的侧壁上开设有与限位柱相适配的通孔，第一容置槽内还设有至少两块支撑板，第一容置槽的底面与支撑板之间设有第二弹性装置，支撑板的顶面上设有滑槽，滑槽内设有滑块，滑块与基板连接，基板的一侧设有多个第一金属电极，支撑板内设有多个第二金属电极。本实用新型的智能型集成电路测试装置能够测试多种型号集成电路芯片、通用性强。