一种集成电路测试仪
基本信息
| 申请号 | CN201920127515.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN209525426U | 公开（公告）日 | 2019-10-22 |
| 申请公布号 | CN209525426U | 申请公布日 | 2019-10-22 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I; G01R1/02（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 吕国伟 | 申请（专利权）人 | 郑州融安科技发展有限公司 |
| 代理机构 | 郑州智多谋知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 徐媛媛 |
| 地址 | 450000 河南省郑州市金水区二环路11号院9号楼2单元80号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种集成电路测试仪，包括工作台，所述工作台的底部设有支撑腿，所述支撑腿的底部设有移动机构，所述工作台上表面的一端设有PLC控制器，所述工作台上表面的另一端设有集成电路测试仪主体，所述集成电路测试仪主体内腔的上表面设有继电器矩阵板，该集成电路测试仪通过设置移动机构便于带动该仪器进行移动和制动，灵活性较高，通过设置观测机构便于观察集成电路的测试过程，通过设置散热板便于提高集成电路测试仪主体的散热性能，通过设置防尘机构便于防止灰尘进入集成电路测试仪主体，通过设置密封盖板和绝缘板便于提高集成电路测试时的密封，提高测试效果，通过设置PLC控制器便于观察测试结果，使用较为便捷。 |
