一种基于FPGA技术的自动响应时间测试方案
基本信息
| 申请号 | CN202011465166.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112630567A | 公开（公告）日 | 2021-04-09 |
| 申请公布号 | CN112630567A | 申请公布日 | 2021-04-09 |
| 分类号 | G01R31/00;G05B19/042;G21D3/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 高奇峰;黄焜;王翔宇;李建伟;赵瑜龙;刘辰星;刘哲明;聂森;范昌;黄德祎;蒋鹏;霍学华;阚睿;朱立志;杨颖;宋宜毅;刘彪;陈斌;李灵燚;王又文;陈星宇 | 申请（专利权）人 | 国核自仪系统工程有限公司 |
| 代理机构 | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人 | 徐俊 |
| 地址 | 264000 山东省烟台市高新区港城东大街15号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种基于FPGA技术的自动响应时间测试方案，主要针对核电站反应堆保护系统的响应时间测试，包括模拟保护系统的I/O输入，接收保护系统的I/O输出，计算从I/O输入变化到I/O输出变化的响应时间。本专利采用高度集成的信号输入输出模块和计时模块，做到了适用于现场狭小环境的使用要求。本专利的计时模块基于FPGA技术，利用FPGA卡的高频时钟源作为计时基准，因此其响应时间精度可达到微秒级，同时FPGA卡有通道密度大的特点，能够大大提高系统的集成度以及测试的效率。 |
