一种沟槽功率器件及其制造方法
基本信息
申请号 | CN202011264302.1 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112382566A | 公开(公告)日 | 2021-02-19 |
申请公布号 | CN112382566A | 申请公布日 | 2021-02-19 |
分类号 | H01L21/28(2006.01)I; | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 杨笠;石亮 | 申请(专利权)人 | 重庆万国半导体科技有限公司 |
代理机构 | 上海精晟知识产权代理有限公司 | 代理人 | 刘宁 |
地址 | 400700重庆市北碚区悦复大道288号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种沟槽功率器件及其制造方法,涉及功率器件半导体制造领域,包括如下步骤:A、元胞结构的制备;B、接触孔、钨栓的制备;C、蚀刻形成电路;D、淀积钝化层,蚀刻钝化层。本发明可以克服工厂的光刻机台的工艺能力,对栅极沟槽与源极沟槽的相对位置的工艺限制,进一步提高集成度。通过同时制造栅极沟槽与源极沟槽,克服了上述光刻工艺难点,且由于没有增加掩模版,成本可控。可以进一步缩小元胞密度,减少导通电阻,提高器件效率。 |
