涂层导体金属基带表面缺陷的动态监测装置及检测方法
基本信息
| 申请号 | CN202010861680.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111982919A | 公开（公告）日 | 2020-11-24 |
| 申请公布号 | CN111982919A | 申请公布日 | 2020-11-24 |
| 分类号 | G01N21/88(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 汪洋;豆文芝;蔡传兵;菅洪彬;王涛 | 申请（专利权）人 | 上海上创超导科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海浦东良风专利代理有限责任公司 | 代理人 | 上海上创超导科技有限公司 |
| 地址 | 201400上海市奉贤区望园路2066弄4号楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种金属基带表面缺陷动态监测装置及检测方法，主要解决现有装置和方法只能通过单个的点测试来描述长带且仅采用灰度检测不能对产品进行等级分类的技术问题。本发明动态监测装置，包括生产线绕带装置，在金属基带上方设有上表面检测桥架及照明装置，在金属基带下方设有下表面检测桥架及照明装置，生产线绕带装置、上表面检测桥架及照明装置、下表面检测桥架及照明装置分别将生产信号和图像及控制信号通过线缆传送给计算机系统，计算机系统在线分析产品表面图像的各种特征，实现对表面缺陷的定位、检测、测量，然后将数据通过网络传送给报警监控计算机，输出各种即时和延迟信号。 |
