一种用于安全芯片测试模式的保护装置及方法
基本信息
| 申请号 | CN202011636797.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112749419A | 公开（公告）日 | 2021-05-04 |
| 申请公布号 | CN112749419A | 申请公布日 | 2021-05-04 |
| 分类号 | G06F21/77;G06F21/75;G06F21/74 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 张奇惠;董文强;刘曼 | 申请（专利权）人 | 广州万协通信息技术有限公司 |
| 代理机构 | 北京市盛峰律师事务所 | 代理人 | 于国强 |
| 地址 | 510400 广东省广州市白云区北太路1633号广州民营科技园科盛路8号配套服务大楼5层A505-63房 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种用于安全芯片测试模式的保护装置及方法，涉及芯片安全防护技术领域；该装置包括简单保护模块、对称保护模块、软保护模块和分布保护模块，其中简单保护模块用于生成测试模式进入的使能信号EN0，对称保护模块用于生成测试模式进入的使能信号EN1，软保护模块用于生成测试模式进入的使能信号EN2，分布保护模块用于使用EN0、EN1和EN2根据分布保护策略对测试模式的进入过程进行分布式保护。本发明中提供的装置提供了三重保护以实现在芯片已经完成CP测试后有效防御攻击者重新进入测试模式，同时在不破坏芯片的情况下，不能逆向追踪三个使能信号的分布布线结构，从而进一步提高芯片的安全性。 |
