一种发光二极管外延片及其制备方法
基本信息
申请号 | CN201810634505.1 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN109065678B | 公开(公告)日 | 2020-04-10 |
申请公布号 | CN109065678B | 申请公布日 | 2020-04-10 |
分类号 | H01L33/06;H01L33/12;H01L33/14;H01L33/32;H01L33/00 | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 洪威威;王倩;周飚;胡加辉 | 申请(专利权)人 | 华灿光电股份有限公司 |
代理机构 | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 徐立 |
地址 | 430223 湖北省武汉市东湖新技术开发区滨湖路8号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种发光二极管外延片及其制备方法,属于发光二极管制造领域。通过将有源层中的垒层设置为包括依次层叠的InxGa1‑xN子垒层、AlaInyN子垒层、AlbGa1‑b‑zInzN子垒层、AlcGa1‑cN子垒层、AlbGa1‑b‑zInzN子垒层、AlaInyN子垒层、InxGa1‑xN子垒层,这种对称生长的垒层结构,在与阱层交替生长时,可减小外延层中整体积累的应力,同时也能够减小其在自身生长过程中引入的应力,进而减小外延层中由应力引起的压电极化现象,同时,垒层中分别设置在AlcGa1‑cN子垒层两侧的InxGa1‑xN子垒层可减小垒层整体与InGaN阱层之间的晶格失配,进一步减小有源层中的压电极化现象,进而减少有源层中的能带弯曲情况,增大电子和空穴波函数空间重叠,进而增大电子与空穴的有效辐射复合率,提高发光二极管的发光效率。 |
