一种GaN基发光二极管外延片及其制备方法
基本信息
申请号 | CN201811416036.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN109545925B | 公开(公告)日 | 2020-04-10 |
申请公布号 | CN109545925B | 申请公布日 | 2020-04-10 |
分类号 | H01L33/12;H01L33/14;H01L33/06;H01L33/00 | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 刘旺平;乔楠;吕蒙普;胡加辉;李鹏 | 申请(专利权)人 | 华灿光电股份有限公司 |
代理机构 | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 徐立 |
地址 | 430223 湖北省武汉市东湖新技术开发区滨湖路8号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种GaN基发光二极管外延片及其制备方法,属于GaN基发光二极管领域。发光二极管外延片包括:衬底、在所述衬底上顺次沉积的缓冲层、非掺杂GaN层、N型掺杂GaN层、低温应力释放层、浅阱层、多量子阱层、电子阻挡层、P型GaN层、以及P型接触层,所述低温应力释放层为第一InGaN子层与第一GaN子层交替生长的周期性结构,所述第一InGaN子层的厚度为1~2nm,所述第一GaN子层的厚度为5~10nm,所述第一InGaN子层或所述第一GaN子层的数量为10~30。 |
