一种具备压阻反馈的静电MEMS微镜及制造方法

基本信息

申请号 CN202111339245.3 申请日 -
公开(公告)号 CN113960782A 公开(公告)日 2022-01-21
申请公布号 CN113960782A 申请公布日 2022-01-21
分类号 G02B26/08(2006.01)I 分类 光学;
发明人 张程浩;陈巧;陈敏 申请(专利权)人 苏州知芯传感技术有限公司
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 代理人 田凌涛
地址 215000江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城中北区23幢214室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种具备压阻反馈的静电MEMS微镜及制造方法,包括衬底(1)、镜面(2)、定梳齿装置、两组动梳齿装置和两个压阻模块(3),通过压阻模块(3)上所设各金属电极(6)与对应扭转梁(4)之间惠斯通电桥的建立与应用,应用惠斯通电桥所具备检测应力变化的能力,以及镜面(2)的扭转角度与扭转梁(4)端部应力间的正比关系,实现对扭转梁(4)端部应力变化情况的检测,最终获得MEMS静电微镜的镜面(2)偏转角度,拥有直接检测高速旋转镜面(2)角度的优点,整个设计方案具有实时、连续检测微镜镜面(2)运动状态的优点,同时整个结构封装尺寸小、结构紧凑,更加节省成本。