一种线损点检系统及方法
基本信息
| 申请号 | CN201710800744.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109470939B | 公开（公告）日 | 2021-01-29 |
| 申请公布号 | CN109470939B | 申请公布日 | 2021-01-29 |
| 分类号 | G01R31/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 罗良萌 | 申请（专利权）人 | 西安克瑞斯半导体技术有限公司 |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 | 代理人 | 孟金喆 |
| 地址 | 518055 广东省深圳市南山区西丽街道留仙大道中兴工业园 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种线损点检方法，包括以下步骤：通过线损设置策略调整频段对应的配置线损值，进行金机制作；利用所述金机对环境线损进行点检；增加频段的功率修正参数，消除调整频段对应的配置线损值带来的影响，获得点检环境下的真实功率。本发明还提供一种线损点检系统，克服了现有技术中存在的不同仪表间差异和测量精度问题，有效规避了金机点检小线损为负值问题，提高了工厂生产效率，节省了工厂及客户生产成本。 |
