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一种用于集成电路的定点检测机构

基本信息

申请号 CN201610708517.5 申请日 -
公开（公告）号 CN106291326A 公开（公告）日 2017-01-04
申请公布号 CN106291326A 申请公布日 2017-01-04
分类号 G01R31/28(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 王文庆 申请（专利权）人 西藏紫光新微电子投资有限公司
代理机构 北京众合诚成知识产权代理有限公司 代理人 连平
地址 523000 广东省东莞市南城区元美路华凯广场A1112
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种用于集成电路的定点检测机构，包括夹持底座、立柱、伸缩管、旋转机构、伸缩杆和连接在伸缩杆一端的探针；夹持底座成型有一通槽，通槽的上侧壁成型有一对连接柱，通槽内设有夹持板，夹持板的上端成型有一对插接柱，连接柱的底面成型有插槽，插接柱插接在插槽内，连接柱上插套有第一压簧；伸缩管的一端成型有圆形的连接套，连接套插套在立柱上，连接套的外侧壁上成型有环形的齿圈，旋转机构包括与齿圈的一侧啮合连接的旋转齿轮、插套在旋转齿轮中部的竖直的花键轴；伸缩管的另一端成型有伸缩槽，伸缩杆插接在伸缩槽内。本发明能释放双手，方便与集成电路检测部位的定位检测点相接触连接。