一种大芯径光纤几何参数测试系统
基本信息
| 申请号 | CN202121953934.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215725709U | 公开（公告）日 | 2022-02-01 |
| 申请公布号 | CN215725709U | 申请公布日 | 2022-02-01 |
| 分类号 | G01B11/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 吴杰;莫琦;刘锐 | 申请（专利权）人 | 武汉睿芯特种光纤有限责任公司 |
| 代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人 | 沈军 |
| 地址 | 430078湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路99号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种大芯径光纤几何参数测试系统，包括第一位移台、第二位移台、单波长光源、包层光剥除器及光电成像系统；第一位移台用于固定待测光纤的第一端；第二位移台用于固定待测光纤的第二端；第一位移台与第二位移台呈间隔设置，以使得待测光纤处于弯曲状态；单波长光源用于朝向待测光纤的第一端发射出单波长光束；包层光剥除器用于对待测光纤的部分包层进行剥除，以控制剥除的待测光纤中包层光的输出比例；光电成像系统用于对待测光纤的第二端输出的单波长光束进行光斑成像，并基于成像得到的光斑图像获取待测光纤的几何参数。本实用新型在对大芯径光纤进行几何参数测量时，可形成高对比度的成像光斑，确保了测量结果的准确性。 |
