芯片测试治具
基本信息
| 申请号 | CN202122836262.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216485374U | 公开（公告）日 | 2022-05-10 |
| 申请公布号 | CN216485374U | 申请公布日 | 2022-05-10 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 朱曹振;王典 | 申请（专利权）人 | 加特兰微电子科技（上海）有限公司 |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 201210上海市浦东新区自由贸易试验区盛夏路666号、银冬路122号5幢地下1层，1_10层901室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请实施例提供一种芯片测试治具，包括：测试台，用于放置多颗AiP裸片；其中，所述AiP裸片设置有天线的一面与所述测试台接触；拾取机构，对所述AiP裸片另一面焊点之间的间隔区域提供拾取操作或释放操作；测试机构，向放置在所述测试台上的至少一颗AiP裸片传导测试温度，以及对所述AiP裸片进行测试。本申请实施例提供一种芯片测试治具，芯片测试治具的结构适用于拾取AiP裸片背离天线一侧的表面，以及利用背离天线一侧表面上的焊点，对AiP裸片进行测试。 |
