一种提升效率的芯片封装塑封工艺

基本信息

申请号 CN202111061436.8 申请日 -
公开(公告)号 CN113948403A 公开(公告)日 2022-01-18
申请公布号 CN113948403A 申请公布日 2022-01-18
分类号 H01L21/56(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 李伟 申请(专利权)人 安徽大衍半导体科技有限公司
代理机构 合肥东信智谷知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 曹雪娇
地址 247100安徽省池州市青阳县蓉城镇经济开发区东河园
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种提升效率的芯片封装塑封工艺,包括,取材、调机、塑封和固化,S1:取材将封装材料从‑5℃的冷冻室取出,放在自然环境下回温,将专用模具与键合的半成品取出备用;S2:调机将专用模具放置在塑封机内,调整塑封机的固化时间为100~120秒,调整塑封机的清膜时间为300秒;S3:塑封将回温后的封装材料放置在塑封机内,在规定的温度与压强下,使封装材料融化,将键合的半成品包裹起来。在同样的情况下,塑封机的固化时间为100秒时,与传统下固化时间为120秒的合格率十分趋近,甚至合格率更高,而塑封机的固化时间为100秒时,制作的产品更多。