一种结构光测量系统的标定方法、装置及电子设备专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种结构光测量系统的标定方法、装置及电子设备

基本信息

申请号	CN202110985259.6	申请日	-
公开（公告）号	CN113566709A	公开（公告）日	2021-10-29
申请公布号	CN113566709A	申请公布日	2021-10-29
分类号	G01B11/00（2006.01）I;G01B11/22（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	杨建滨;李虹;周印伟;杜先鹏;金传广	申请（专利权）人	苏州小优智能科技有限公司
代理机构	北京金硕果知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	郝晓霞
地址	215100江苏省苏州市吴中区东吴北路8号国裕大厦一期1401室
法律状态	-

摘要

本发明提供一种结构光测量系统的标定方法、装置及电子设备，利用所述工业相机获取靶标图像和条纹图像；利用所述靶标图像对工业相机进行标定得到相机内参数、畸变系数和外参数；从靶标图像获取多个目标点的像素坐标，并根据对应的条纹图像计算得到多个目标点位置的绝对相位值；根据所述相机内参数、畸变系数、外参数和多个目标点的像素坐标进行计算，得到多个目标点位置的深度值；根据多个目标点位置的绝对相位值和深度值对预先构建的相位与深度映射关系多项式函数进行拟合，得到相位与深度映射关系的拟合参数。本发明方案通过多项式拟合方式，实现了结构光测量系统的深度与相位的映射关系的拟合，从而根据物体上任意一点的相位信息计算出该点的深度信息。