硅芯腐蚀工艺

基本信息

申请号 CN201110137823.5 申请日 -
公开(公告)号 CN102206822B 公开(公告)日 2012-10-17
申请公布号 CN102206822B 申请公布日 2012-10-17
分类号 C30B33/10(2006.01)I;C30B29/06(2006.01)I;C23F1/40(2006.01)I 分类 晶体生长〔3〕;
发明人 周大荣 申请(专利权)人 无锡中彩科技有限公司
代理机构 无锡市大为专利商标事务所 代理人 曹祖良
地址 214183 江苏省无锡市惠山区玉祁镇工业集中区
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种硅芯腐蚀工艺,特征是,包括以下工艺步骤:(1)将硅芯浸泡于碱溶液中浸泡10~20分钟,在浸泡时加入质量百分浓度为0.5~1%的双氧水,碱溶液的温度为50~60℃;(2)一级漂洗:将硅芯放入纯水中漂洗5~10分钟以去除碱溶液;(3)中和:将经一级漂洗后的硅芯放入氢氟酸溶液中浸泡以中和残余的碱溶液;(4)二级漂洗:将经中和处理后的硅芯置于纯水中漂洗5~10分钟以去除氢氟酸溶液;(5)洁净:将经二级漂洗后的硅芯放入用蒸汽加热的纯水中浸泡30~50分钟;(6)烘干:将硅芯置于烘箱中烘干。本发明的优点是:本发明所述方法的成本只有酸腐蚀的一半,且腐蚀液可反复使用;不会产生氮化物污染环境,且对人体不会造成危害。