一种EMCCD倍增增益测试方法
基本信息
申请号 | CN201910956340.4 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN110687423B | 公开(公告)日 | 2021-11-23 |
申请公布号 | CN110687423B | 申请公布日 | 2021-11-23 |
分类号 | G01R31/26(2014.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 焦贵忠;孙丽丽;田波;秦盼;卜令旗;李苏苏 | 申请(专利权)人 | 华东光电集成器件研究所 |
代理机构 | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所(普通合伙) | 代理人 | 陈俊 |
地址 | 233030安徽省蚌埠市经济开发区汤和路2016号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开一种EMCCD倍增增益测试方法,包括以下步骤:a、选择EMCCD的待测像元,对待测像元施加电源与时钟信号,在无光条件下,测试得到像元输出Udark;在对应的光照条件下,逐级增加倍增电压,得到有光条件下的像元输出Vout;根据公式MRG=(Vout‑Udark)/Udark计算倍增增益,公式中MRG为倍增增益;b、计算出白缺陷、暗缺陷与盲元像素,剔除缺陷像元;c、拟合倍增电极与倍增增益的关系曲线;通过不断地施加倍增电极电压,记录倍增电压值与此时倍增增益计算值,描绘倍增增益曲线图,可以清晰给出倍增电极电压与倍增增益的关系,填补了国内外的空白。 |
