集成电路功能自动测试装置
基本信息
| 申请号 | CN201910755618.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110501629A | 公开（公告）日 | 2019-11-26 |
| 申请公布号 | CN110501629A | 申请公布日 | 2019-11-26 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）; G01R1/04（2006.01） | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 肖航; 段恋 | 申请（专利权）人 | 佛山核芯半导体有限公司 |
| 代理机构 | 广州专理知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 佛山核芯半导体有限公司 |
| 地址 | 528200 广东省佛山市南海区桂城街道深海路17号瀚天科技城A区6号楼四楼409单元 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种集成电路功能自动测试装置，包括箱体，设置在箱体内的转动平台，设置在转动平台上的测试治具，所述测试治具包括设置在转动平台上的测试底板，设置在测试底板上的多个立柱，设置在立柱上的测试平台，在测试平台上设置有测试工位和验证工位，导通测试工位上的待测集成电路与接触控制开关板的连接，在验证集成电路与待测集成电路导通后上电，通过上位机控制待测集成电路与验证集成电路的导通，若所述验证集成电路上对应的验证灯闪烁，则待测集成电路上的测试功能完整，当至少其中一个出现问题时，则为残次品。 |
