一种芯片测试板
基本信息
| 申请号 | CN202121202354.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215493963U | 公开（公告）日 | 2022-01-11 |
| 申请公布号 | CN215493963U | 申请公布日 | 2022-01-11 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘峻峰;顾标琴 | 申请（专利权）人 | 江苏扬杰润奥半导体有限公司 |
| 代理机构 | 南京源点知识产权代理有限公司 | 代理人 | 潘云峰 |
| 地址 | 225000江苏省扬州市广陵产业园创业路 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型属于半导体制作设备技术领域，尤其涉及一种芯片测试板。应用于芯片测试装置上，芯片测试装置包括传递盒，传递盒上开设有用于放置芯片的凹槽，芯片测试板包括导电基板，导电基板上阵列开设有与传递盒上凹槽对应的测试槽。本实用新型用于解决芯片测试效率低的问题。在导电基板上阵列设置若干与传递盒上凹槽对应的测试槽，在测试芯片时，只需将导电基板翻转对准传递盒，将传递盒中芯片全部翻转放置在测试槽中，之后即可同时完成对所有测试槽中芯片的测试，提高测试效率。 |
