一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202011516181.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112486792A | 公开（公告）日 | 2021-03-12 |
| 申请公布号 | CN112486792A | 申请公布日 | 2021-03-12 |
| 分类号 | G06F11/34(2006.01)I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 闫亚闯 | 申请（专利权）人 | 北京安兔兔科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京柏杉松知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 丁芸;赵元 |
| 地址 | 100041北京市石景山区实兴大街30号院3号楼2层A-0049房间 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例提供了一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，通过生成随机数，对所生成的随机数进行判断，如果所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理，统计预设时长内完成分解处理的合数数量，基于该合数数量，确定运算性能测试结果。整数主要分为合数和质数，任何一个合数都可以被分解为多个质数的乘积，经过对随机生成的合数进行分解处理，并统计预设时长内完成分解处理的合数数量，能够测试出电子设备对合数进行分解处理的能力，即一段时长内能够对多少个合数完成分解处理，从而实现了对电子设备在整数运算方面的性能测试。 |
