一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质
基本信息
申请号 | CN202011519067.8 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112486795A | 公开(公告)日 | 2021-03-12 |
申请公布号 | CN112486795A | 申请公布日 | 2021-03-12 |
分类号 | G06F11/34(2006.01)I | 分类 | 计算;推算;计数; |
发明人 | 闫亚闯 | 申请(专利权)人 | 北京安兔兔科技有限公司 |
代理机构 | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 丁芸;赵元 |
地址 | 100041北京市石景山区实兴大街30号院3号楼2层A-0049房间 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明实施例提供了一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质,通过生成随机整数,判定所生成的随机整数是否为质数,统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量,基于该总数量,确定运算性能测试结果。经过对随机生成的整数进行判定,统计出预设时长内判定为质数的随机整数总数量,能够测试出电子设备对整数数据类型的识别能力,即一段时长内能够判定出多少个质数,从而实现了对电子设备在数学运算方面的性能测试。 |
