一种处理器性能测试方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN202011516963.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112559269A | 公开（公告）日 | 2021-03-26 |
| 申请公布号 | CN112559269A | 申请公布日 | 2021-03-26 |
| 分类号 | G06F11/22(2006.01)I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 闫亚闯 | 申请（专利权）人 | 北京安兔兔科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京柏杉松知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 孟维娜;高莺然 |
| 地址 | 100041北京市石景山区实兴大街30号院3号楼2层A-0049房间 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例提供了一种处理器性能测试方法及装置，涉及电子设备测试技术领域，其中，上述方法包括：创建至少两个运行于处理器上的线程；控制所创建的线程分别对无序数据组中的数据进行并行的排序处理，直至每一线程进行排序处理的累计时长分别不小于预设时长；统计各个线程完成排序处理的总次数；根据总次数，计算用于表示处理器的性能的性能值，得到测试结果。应用本发明实施例提供的方案能够测试电子设备中处理器的性能。 |
