降低对存储器接口性能影响的闪存错误检测方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN201510017224.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN104615503B | 公开（公告）日 | 2018-10-30 |
| 申请公布号 | CN104615503B | 申请公布日 | 2018-10-30 |
| 分类号 | G06F11/10 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 黎智 | 申请（专利权）人 | 广东华晟数据固态存储有限公司 |
| 代理机构 | 广州粤高专利商标代理有限公司 | 代理人 | 广东华晟数据固态存储有限公司 |
| 地址 | 511458 广东省广州市南沙区进港大道80号805房 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种降低对存储器接口性能影响的闪存错误检测方法及装置。根据闪存各页所在位置的物理特性，将一个块中的页按照ECC增长的速度差异分到不同的组，在实际巡检操作中，根据不同的组分配不同的巡检周期，ECC增长越快的页面，巡检周期越短，反之越长。减小了Nand Flash闪存的接口性能压力，即减小了对存储器对外接口的性能影响。 |
