一种电机变频驱动器老化测试装置及其测试方法
基本信息
| 申请号 | CN202010660280.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113933615A | 公开（公告）日 | 2022-01-14 |
| 申请公布号 | CN113933615A | 申请公布日 | 2022-01-14 |
| 分类号 | G01R31/00;G01R19/165;G01R1/04;G01J5/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 何祖辉;李志军;邱秀华;朱永斌 | 申请（专利权）人 | 浙江天毅半导体科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京劲创知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 曹玉清 |
| 地址 | 312000 浙江省绍兴市越城区平江路328号6幢一层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种电机变频驱动器老化测试装置及其测试方法，包括底板，所述底板的底部固定连接有支腿，所述底板顶部的左侧固定连接有箱体，所述箱体正面的左侧固定安装有控制面板，所述箱体正面的右侧固定安装有显示器，所述箱体内腔的右侧固定安装有中央处理器，所述中央处理器的左侧固定安装有通信模块，所述箱体内腔的底部固定连接有变压器。本发明具备便于使用的优点，解决了现有的电机变频驱动器老化测试装置在对电机变频驱动器进行老化测试时，不便于对不同尺寸的电机变频驱动器进行夹持固定，并对测试电机的负载重量进行调节，影响电机变频驱动器在不同负载情况对老化情况进行检测的问题。 |
