硅片线痕测量的测试头
基本信息
| 申请号 | CN201220135177.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN202494408U | 公开（公告）日 | 2012-10-17 |
| 申请公布号 | CN202494408U | 申请公布日 | 2012-10-17 |
| 分类号 | G01B5/00(2006.01)I;G01B5/06(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 韩波;丁杰;于才华;袁前程 | 申请（专利权）人 | 宁波升科太阳能股份有限公司 |
| 代理机构 | 杭州金源通汇专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 宁波升科太阳能股份有限公司 |
| 地址 | 315040 浙江省宁波市高新区凌云路1177号-7号楼（宁波升科太阳能股份有限公司） | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种硅片线痕测量的测试头，包括测试头本体，其特征是所述的测试头本体为空腔结构，其前端为尖头结构。其尖端部分的角度可以根据情况而设置。所述的测试头本体上设有螺纹孔及与螺纹孔相配合的螺丝。测试时可通过螺丝将测试头固定在千分尺的测砧上。本实用新型得到的硅片线痕测量的测试头，克服现有千分尺无法深入测量敞口较为狭窄的物件，以及目前千分尺测试的局限性，而且能方便的安装在普通千分尺上，对硅片进行方便测量。 |
