一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩
基本信息
| 申请号 | CN202120703014.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214545335U | 公开（公告）日 | 2021-10-29 |
| 申请公布号 | CN214545335U | 申请公布日 | 2021-10-29 |
| 分类号 | H05K9/00（2006.01）I;H01Q1/12（2006.01）I | 分类 | 其他类目不包含的电技术; |
| 发明人 | 李冬;李超;邱忠云;余浪;吕清刚;易亮 | 申请（专利权）人 | 成都华芯天微科技有限公司 |
| 代理机构 | 成都华风专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 李晓 |
| 地址 | 610000四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区天府大道北段1700号3栋3单元12层1207号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，涉及相控阵天线高低温试验用设备技术领域，主要用于解决相控阵天线在进行高低温试验时会受到温度试验箱影响，导致测试数据出现误差的问题。其主要结构为：包括测试罩主体，测试罩主体的一端设有锥形盖，另一端设有天线安装法兰环，测试罩主体和锥形盖内壁上皆设有吸波内衬，锥形盖轴心处设有直波导和测试接头。本实用新型提供的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，用该测试罩遮盖相控阵列天线，能使相控阵天线不再受温度试验箱带来的其它因素的影响，保证了温度试验测试数据的准确性。 |
