一种稀土氟氧化物薄膜的形成方法
基本信息
申请号 | CN202210504745.6 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN114717555A | 公开(公告)日 | 2022-07-08 |
申请公布号 | CN114717555A | 申请公布日 | 2022-07-08 |
分类号 | C23C26/00(2006.01)I;C01F17/259(2020.01)I;C01F17/10(2020.01)I | 分类 | 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制〔2〕; |
发明人 | 贺邦杰;余宜璠;陈立航;郑宣 | 申请(专利权)人 | 重庆臻宝科技股份有限公司 |
代理机构 | 重庆乐泰知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | - |
地址 | 401326重庆市九龙坡区西彭镇森迪大道66号附72号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种稀土氟氧化物薄膜的形成方法,属于半导体涂层制备技术领域,包括以下步骤:提供包含F离子或C离子或S离子的气体;将上述气体进行加热预处理,使其产生游离的F离子,在低压反应腔内与Y2O3涂层反应,所述低压反应腔的压力小于等于101kPa,所述加热预处理后的气体温度为200~1000℃。将预处理后的气体与Y2O3涂层反应生成氟氧化钇薄膜。采用本发明方法制备氧氟化钇薄膜,反应更为充分,得到的氧氟化钇薄膜的纯度较高,异相氟化钇等杂质的含量较少,可以加强耐等离子体的防腐能力。 |
