一种稀土氟氧化物薄膜的形成方法

基本信息

申请号 CN202210504745.6 申请日 -
公开(公告)号 CN114717555A 公开(公告)日 2022-07-08
申请公布号 CN114717555A 申请公布日 2022-07-08
分类号 C23C26/00(2006.01)I;C01F17/259(2020.01)I;C01F17/10(2020.01)I 分类 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制〔2〕;
发明人 贺邦杰;余宜璠;陈立航;郑宣 申请(专利权)人 重庆臻宝科技股份有限公司
代理机构 重庆乐泰知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 -
地址 401326重庆市九龙坡区西彭镇森迪大道66号附72号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种稀土氟氧化物薄膜的形成方法,属于半导体涂层制备技术领域,包括以下步骤:提供包含F离子或C离子或S离子的气体;将上述气体进行加热预处理,使其产生游离的F离子,在低压反应腔内与Y2O3涂层反应,所述低压反应腔的压力小于等于101kPa,所述加热预处理后的气体温度为200~1000℃。将预处理后的气体与Y2O3涂层反应生成氟氧化钇薄膜。采用本发明方法制备氧氟化钇薄膜,反应更为充分,得到的氧氟化钇薄膜的纯度较高,异相氟化钇等杂质的含量较少,可以加强耐等离子体的防腐能力。