晶体光学均匀性的检测装置
基本信息
| 申请号 | CN201720855524.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN206876559U | 公开（公告）日 | 2018-01-12 |
| 申请公布号 | CN206876559U | 申请公布日 | 2018-01-12 |
| 分类号 | G01N21/21;G01N21/45 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 井旭 | 申请（专利权）人 | 济南快谱光电技术有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 250000 山东省济南市高新区会展西路88号1号楼1-402室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及一种晶体光学均匀性的检测装置。包括沿轴线依次设置的相干光源发射器、准直器、起偏器、相位延迟器、晶体放置台、检偏器以及成像接收装置，其中，所述相干光源发射器用于发射光源；所述准直器用于对相干光源进行扩束和光场匀化；所述起偏器用于使相干光源成为完全的线偏振光源；所述相位延迟器用于调整相干光源发出的入射光的偏振态进行调节，所述晶体放置台放置台用于放置待检测晶体，所述检偏器用于对经过待检测的入射光进行检偏，实现偏振干涉成像，所述成像接收装置用于对检偏后的偏正干涉像进行接收显示。本实用新型方法简单、操作方便且利用现有成熟的设备通过组合，大大降低了检测成本，适合大规模推广使用。 |
