大板级扇出基板倒装芯片封装结构的制备方法
基本信息
申请号 | CN202110656394.6 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113299569A | 公开(公告)日 | 2021-08-24 |
申请公布号 | CN113299569A | 申请公布日 | 2021-08-24 |
分类号 | H01L21/56(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L23/488(2006.01)I;H01L23/49(2006.01)I;H01L23/498(2006.01)I;H01L23/52(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 崔成强;成海涛;杨斌 | 申请(专利权)人 | 广东佛智芯微电子技术研究有限公司 |
代理机构 | 广州鼎贤知识产权代理有限公司 | 代理人 | 刘莉梅 |
地址 | 528225广东省佛山市南海区狮山镇南海软件科技园内佛高科技智库中心A座科研楼A107室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开一种大板级扇出基板倒装芯片封装结构的制备方法,包括:提供载板,在载板的一侧制作第一重布线层;在第一重布线层上制作传输层,并在传输层上制作第二重布线层;提供ASIC芯片和滤波元件,将ASIC芯片和滤波元件倒装于第二重布线层上并进行塑封;对塑封层进行开孔处理,形成第一盲孔和第二盲孔;在第一盲孔内制作第一导电柱,在第二盲孔内制作第二导电柱,在塑封层的表面制作第三重布线层;拆除载板,将传感器芯片的I/O接口与第一重布线层电性连接。本发明将芯片倒装于重布线层,倒装芯片与重布线层的连接强度更高,并且芯片倒装后再进行塑封的方式更为稳定,避免塑封层产生翘曲和高热应力,产品的良率更高。 |
